直流電流泄露試驗(yàn)在電力系統(tǒng)主設(shè)備測試中的優(yōu)點(diǎn)：

1)當(dāng)所加的直流電壓不高時(shí)，由泄漏電流換算出的絕緣電阻值與兆歐表所測的值極為接近。但當(dāng)用較高的電壓來測泄漏電流時(shí)，就有可能發(fā)現(xiàn)兆歐表所不能發(fā)現(xiàn)的絕緣損壞或弱點(diǎn)；

2)試驗(yàn)電壓高且可任意調(diào)節(jié)試驗(yàn)電壓值，對一定電壓等級的被試品加以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，可使絕緣本身的弱點(diǎn)更容易顯示出來，(比如像瓷質(zhì)絕緣裂紋、局部損傷、絕緣油劣化、絕緣沿面炭化)同時(shí)在升壓過程中可隨時(shí)監(jiān)視微安表的指示一了解絕緣狀況；如絕緣良好，泄電流與電壓的關(guān)系應(yīng)是按正比例增大，如絕緣有缺陷或受潮時(shí)，泄漏電流的增長比電壓增長快，且電壓較高時(shí)，泄漏電流急劇增大，還會有一些不正?，F(xiàn)象。

3)微安表的測量精度比兆歐表高，測量泄漏電流和直流耐壓可以同時(shí)進(jìn)行。

直流電流泄露試驗(yàn)在電力系統(tǒng)主設(shè)備測試中的影響因素：

2.1被試設(shè)備表面臟污和受潮的影響

由于試品表面臟污或受潮會使其表面電阻大大降低，造成泄露電流測試數(shù)值增高，為真實(shí)反映試品的絕緣狀況，必須使試品表面干燥、清潔且使高壓端導(dǎo)線與接地端保持足夠的距離，以消除表面泄露電流及試驗(yàn)線對地雜散電流的影響，以保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

2.2測量環(huán)境的溫度及濕度的影響

對漏電電流影響最大的則是溫度，通常情況下，漏電電流會隨著溫度的增高而不斷增大，其原因主要是由于在溫度上升時(shí)，絕緣介質(zhì)中的極化現(xiàn)象加劇，使其電導(dǎo)增加，最終促使漏電電流增高。所以，在對漏電電流進(jìn)行測量時(shí)，應(yīng)做好溫度的記錄，便于對其溫度進(jìn)行同一換算后再進(jìn)行比較。

表面漏電電流會容易受到溫度的影響，會使絕緣表面對潮氣進(jìn)行吸附，促使瓷套表面有水膜產(chǎn)生，導(dǎo)致絕緣電阻明顯下降。其次，由于一些絕緣材料中會有毛細(xì)血管作用，當(dāng)空氣中相對濕度較大時(shí)，會出現(xiàn)水分吸收較多，使其電導(dǎo)逐漸增加，增大了泄露電流的數(shù)值。

2.3試驗(yàn)人員對設(shè)備熟練程度及試驗(yàn)人員加壓速度對結(jié)果的影響

電氣試驗(yàn)人員首先判定被試物品工作特性、材料本身的性能，以確定對被試物品如何操作，對于電纜、電容器等大容量設(shè)備來說，由于泄露電流存在吸收過程，真實(shí)的泄露電流要經(jīng)過一定時(shí)間充分吸收后才能反映出來，1min時(shí)的泄露電流可能包含一定的電容電流和吸收電流，因此造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確。

2.4被試品放電不充分殘余電荷的影響

由于沒有充分放電，以至設(shè)備積累一定的電荷，由于剩余電量的存在會使測量數(shù)據(jù)虛假的增大或縮小，對于大容量設(shè)備，可能還會造成對試驗(yàn)回路造成大沖擊，出現(xiàn)閃烙或間歇性放電，危及試驗(yàn)人員安全。

2.5所選取電源質(zhì)量的影響

實(shí)踐證明，在實(shí)際工作中，由于所選取電源電壓質(zhì)量不高、容量不夠、性能不穩(wěn)定，造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確。如：在試驗(yàn)過程中，由于臨時(shí)停電，用臨時(shí)發(fā)電機(jī)做電源，結(jié)果不準(zhǔn)確，有時(shí)還測量不出結(jié)果。

其他影響因素：測量時(shí)微安表的位置、高壓雜散電流及表面泄露電流被試品表面臟污程度、試驗(yàn)電壓極性等因素的影響，也要在試驗(yàn)過程中統(tǒng)籌考慮。