頻率及高低周試驗(yàn)，測(cè)試模塊主要是用來(lái)測(cè)試低周減載和高周切機(jī)等保護(hù)的各項(xiàng)功能。根據(jù)其功能，將這個(gè)模塊分成了六個(gè)測(cè)試單元。

測(cè)試項(xiàng)目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護(hù)。

頻率能夠下滑進(jìn)行低周減載測(cè)試，也能夠上滑進(jìn)行高周試驗(yàn)。

試驗(yàn)界面說(shuō)明

測(cè)試項(xiàng)目：
有“動(dòng)作頻率”“動(dòng)作時(shí)間”“df/dt 閉鎖”“dv/dt“低電壓閉鎖”以及“低電流閉鎖”等六個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。根據(jù)需要，能夠選擇其中的一個(gè)或者多個(gè)進(jìn)行試驗(yàn)。選擇多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，不在上這一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試完畢后，下一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試對(duì)象名稱中包含“低周保護(hù)”“頻”“電器”“低頻電器”以及“高電器”“低周保”。

試驗(yàn)參數(shù)：

頻率變化前延時(shí)在變量的每個(gè)變化過(guò)程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時(shí)”結(jié)束，然后再開(kāi)始變化。該項(xiàng)在有些保護(hù)測(cè)試是非常有用，能夠用來(lái)等待保護(hù)頻率閉鎖后解除閉鎖。測(cè)試間斷時(shí)間每一次試驗(yàn)結(jié)束后裝置將停止輸出至“測(cè)試間斷時(shí)間”結(jié)束，再進(jìn)入下一次試驗(yàn)整定值各測(cè)試功能頁(yè)中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗(yàn)期間并不起作用，只是在試驗(yàn)后起到參考對(duì)比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定。試驗(yàn)測(cè)得”的“測(cè)試值”與“整定值”進(jìn)行比較后，得出一個(gè)相對(duì)誤差，從而反映保護(hù)的性能。

動(dòng)作頻率：

動(dòng)作頻率測(cè)試范圍動(dòng)作頻率測(cè)試范圍的測(cè)試始值和終值均應(yīng)設(shè)置在動(dòng)作頻率附近。測(cè)試始值應(yīng)大于保護(hù)整定動(dòng)作值，測(cè)試終值小于整定動(dòng)作值，動(dòng)作頻率的測(cè)試方法:測(cè)試時(shí)頻率分兩階段變化開(kāi)始以50Hz輸出，經(jīng)過(guò)變化前延時(shí)后，先按所設(shè)定的df/dt 均勻下滑(或上滑)至測(cè)試始值頻率，然后按設(shè)定的步長(zhǎng)以一定時(shí)間間隔逐格降低(或上升)頻率，在該過(guò)程中如保護(hù)動(dòng)作，則測(cè)出動(dòng)作值。

如未動(dòng)作首資化至測(cè)安終值，即認(rèn)為保護(hù)采公場(chǎng)作而結(jié)策該項(xiàng)測(cè)試。這里逐格變頻的時(shí)間間隔是根據(jù)整定的動(dòng)作時(shí)間自動(dòng)確定的，。故整定動(dòng)作時(shí)間應(yīng)設(shè)置正確，以保證在變化時(shí)間間隔內(nèi)保護(hù)有足夠時(shí)間能夠動(dòng)作。做低周減載試驗(yàn)一般測(cè)試范圍小于 50Hz，做高周切機(jī)試驗(yàn)一般測(cè)試范圍大于 50Hz。例如:，-48Hz，。測(cè)試始值和終值不能設(shè)置得太小(一般應(yīng)不低于 45Hz)，否則保護(hù)將閉鎖。

動(dòng)作時(shí)間：

動(dòng)作時(shí)間測(cè)試的方法:頻率從始值(一般為50Hz)下滑至終值并等待動(dòng)作。該終值應(yīng)略小于動(dòng)作頻率值以確保裝置動(dòng)作，但測(cè)試動(dòng)作時(shí)間的計(jì)時(shí)器是從所設(shè)定的“開(kāi)始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”處開(kāi)始計(jì)時(shí)，故該值若有偏差將影響時(shí)間測(cè)量精度。試驗(yàn)過(guò)程見(jiàn)右圖·開(kāi)始計(jì)時(shí)的頻率點(diǎn)測(cè)動(dòng)作時(shí)間時(shí)，應(yīng)特別注意正確設(shè)置“開(kāi)始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”。一般設(shè)置為裝置整定的動(dòng)作頻率，或測(cè)試出的準(zhǔn)確動(dòng)作頻率值。

df/dt 閉鎖：
 df/dt 測(cè)試范圍：

測(cè)試“df/dt 閉鎖值”時(shí)，在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每次測(cè)試時(shí)都從頻率始值下滑(或上滑)至終值，下滑(或上滑)的 df/dt 值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化試探至某一輪試驗(yàn)至保護(hù)動(dòng)作，則測(cè)出此時(shí)的 df/dt 閉鎖的邊界值因?yàn)楸Ｗo(hù)在大于整定的 df/dt 值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測(cè)試保護(hù)從不動(dòng)作到動(dòng)作，測(cè)出保護(hù)的 df/dt 閉鎖值。頻率變化范圍每輪試驗(yàn)頻率從始值下滑 (或上滑)至終值。始值一般為 50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因?yàn)橐话阊b置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會(huì)被閉鎖不出口。

注意：做該試驗(yàn)時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。

dv/dt 閉鎖：

這個(gè)測(cè)試頁(yè)與上文中的“df/dt 閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測(cè)試變化的是 dv/dt 值。下面只對(duì)它們的不同點(diǎn)做介紹。

dv/dt 測(cè)試范圍：

測(cè)試“dv/dt 閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每次測(cè)試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的 dv/dt 值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動(dòng)作，則測(cè)出 dv/dt 閉鎖的邊界值。因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt 閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動(dòng)作做到動(dòng)作，從而測(cè)出裝置的 dv/dt閉鎖值。

電壓變化范圍：

為了模擬電壓下降的過(guò)程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”天子“變化終值”。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。測(cè)試時(shí) df/dt 值在此測(cè)試單元里頻率總是按所設(shè)置的 df/dt 變化，因此設(shè)置 df/dt 時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的 df/dt閉鎖值。

低電壓閉鎖：

該頁(yè)與上文中的“df/dt 閉鎖”和“dv/dt 閉鎖”相似。下面僅介紹不同點(diǎn)。電壓測(cè)試范圍測(cè)試時(shí)電壓在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每輪測(cè)試時(shí)頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時(shí)裝置解除閉鎖正確動(dòng)作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值由于裝置在電壓小于閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，故般變化始值應(yīng)設(shè)置為小手裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動(dòng)作到動(dòng)作，從而測(cè)出裝置的低電壓閉鎖值。

低電流閉鎖：