萬(wàn)用表作為檢測(cè)工具的集成電路的檢測(cè)方法，有以下幾點(diǎn)：

  一、不在路檢測(cè)

  這種方法是在IC未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用 萬(wàn)用表 測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的IC進(jìn)行比較。

  二、在路檢測(cè)

  這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測(cè)IC最常用和實(shí)用的方法。

  1.在路直流電阻檢測(cè)法

  這是一種用萬(wàn)用表歐姆擋，直接在線(xiàn)路板上測(cè)量IC各引腳和外圍元件的正反向直流電阻值，并與正常數(shù)據(jù)相比較，來(lái)發(fā)現(xiàn)和確定故障的方法。測(cè)量時(shí)要注意以下三點(diǎn)：

  (1)測(cè)量前要先斷開(kāi)電源，以免測(cè)試時(shí)損壞電表和元件。

  (2)萬(wàn)用表電阻擋的內(nèi)部電壓不得大于6V，量程最好用R×100或R×1k擋。

  (3)測(cè)量IC引腳參數(shù)時(shí)，要注意測(cè)量條件，如被測(cè)機(jī)型、與IC相關(guān)的電位器的滑動(dòng)臂位置等，還要考慮外圍電路元件的好壞。

  2.直流工作電壓測(cè)量法

  這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量;檢測(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相比較，進(jìn)而壓縮故障范圍，找出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下八點(diǎn)：

  (1)萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻，至少要大于被測(cè)電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測(cè)量誤差。

  (2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。

  (3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC?？刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng)：取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上，并長(zhǎng)出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測(cè)試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì)短路。

  (4)當(dāng)測(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)IC正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析，才能判斷IC的好壞。

  (5)IC引腳電壓會(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì)使引腳電壓發(fā)生變化。

  (6)若IC各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為IC正常;若IC部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則IC很可能損壞。

  (7)對(duì)于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無(wú)信號(hào)時(shí)，IC各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號(hào)大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定IC損壞。

  (8)對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，IC各引腳電壓也是不同的。

  3.交流工作電壓測(cè)量法

  為了掌握IC交流信號(hào)的變化情況，可以用帶有dB插孔的萬(wàn)用表對(duì)IC的交流工作電壓進(jìn)行近似測(cè)量。檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入dB插孔;對(duì)于無(wú)dB插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只0.1～0.5μF隔直電容。該法適用于工作頻率比較低的IC，如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

  4.總電流測(cè)量法

  該法是通過(guò)檢測(cè)IC電源進(jìn)線(xiàn)的總電流，來(lái)判斷IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，IC損壞時(shí)(如某一個(gè)PN結(jié)擊穿或開(kāi)路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判斷IC的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。

  注意以上檢測(cè)方法，各有利弊，在實(shí)際應(yīng)用中最好將各種方法結(jié)合起來(lái)，靈活運(yùn)用。

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